運(yùn)用傳統(tǒng)在電路測試器的生產(chǎn)測試, 和產(chǎn)品開發(fā)一樣都會遇到相似的問題:
·　細(xì)小的組件譬如SMTs 和BGAs都缺乏物理存取, 使板上的針難以探查。
·　為發(fā)展ICTs的測試裝置變得更長和更加昂貴。
·　由于日漸復(fù)雜的ICs, ICTs的試驗發(fā)展過程變得更長和更加昂貴。
·　設(shè)計師被迫提出大數(shù)量的測試點(diǎn), 與小型化設(shè)計的目標(biāo)直接沖突。
·　使用ICT去做在線編程, 速度慢, 效率低, 成本高。
現(xiàn)在的電子元件越來越小,管腳越來越密,更多的是沒有管腳外露的BGA/FQP/LPQ等封裝,這樣我們?nèi)绾蝸砼袛嘈酒附雍碗娐钒鍿MT的好壞呢? IEEE 定義邊界掃描1149.1 標(biāo)準(zhǔn), 它是一個實(shí)施在IC水平, 為測試在PCB上的互相聯(lián)系的聯(lián)合方法。在80年代, 聯(lián)合測試行動小組(JTAG) 開發(fā)了一個為邊界掃描測試的規(guī)格,在1990 規(guī)范化了`并作為IEEE Std.1149.1-1990 。1993年, 一個對IEEE Std.1149.1標(biāo)準(zhǔn)的新修正推出(題為1149.1a), 并且它包含了許多闡明、更正, 和改進(jìn)。1994 年, 包含描述的補(bǔ)充邊界掃描描述語言(BSDL) 增加了來標(biāo)準(zhǔn)。從那時候, 這個標(biāo)準(zhǔn)由全世界的主要電子公司采用。邊界掃描應(yīng)用于大容量、高端消費(fèi)品、電信產(chǎn)品、防御系統(tǒng)、計算機(jī)、外圍設(shè)備和航空電子學(xué)方面。現(xiàn)在, 因為它的經(jīng)濟(jì)好處, 無法買得起昂貴的in-circuit 測試器的公司也使用邊界掃描。
基于IEEE1149.1/1149.5/6的標(biāo)準(zhǔn),在JTAG原理基礎(chǔ)上,Corelis公司提供了一整套針對研發(fā)/生產(chǎn)/測試流程的邊界掃描測試工具(Boundary Scan Tools), 其產(chǎn)品更可以與多種ICT結(jié)合使用,來完成功能測試,從而提供板子的coverage report.

原理介紹：

一個典型的擁有邊界掃描電路板包括以下主要組分:
·　各種各樣邊界掃描組件如CPLDs, FPGAs 、Processors等, 連起來通過邊界掃描通路(scan path)。
·　非邊界掃描組件(群)。
·　各種類型的存儲設(shè)備。
·　FLASH組件。
·　透明組分譬如系列電阻或緩沖。
我們可以通過TDI輸入一系列0和1的測試向量，然后系統(tǒng)會根據(jù)每個含有邊界掃描信息的元件的BSDL文件定義，來判斷TDO的輸入信號是否跟預(yù)期一樣，從而達(dá)到定位錯誤的功能。邊界掃描測試軟件系統(tǒng)有: 測試腳本生成軟件TPG (Test Program Generator, TPG)根據(jù)測試目標(biāo)板(Unit Under Test, UUT)的netlist 和BSDL 文件。 TPG自動地產(chǎn)生測試向量, 它為所有可用邊界掃描測試的元件進(jìn)行故障檢測和隔離。TPG 也能為掛在JTAG鏈的在非邊界掃描組件產(chǎn)生測試向量。報表生成軟件 DFT提供測試覆蓋面報告,提供測試的覆蓋率。運(yùn)行腳本軟件RUNNER 為邊界掃描測試和在線編程執(zhí)行提供稱測試計劃(test plan)。 UUT自動應(yīng)用測試向量文件(test vector file), 并且將它的結(jié)果與期望的值比較。在有檢測缺點(diǎn)的情況下, 系統(tǒng)診斷缺點(diǎn)和列出故障。測試也可以編程CPLDs 和閃存。并且支持其它格式的在線編程, 譬如SVF, JAM, J-Drive和STAPL。高級診斷軟件ADO，可以在有鼓掌和問題的時候，自動提示出引起fail的各種可能性。